加工定制是	品牌德国SENTECH
型号SE 500advanced	用途膜厚测量
是否跨境货源是	主要销售地区其他
有可授权的自有品牌是

cer组合椭偏仪  se 500advanced
迄今为止***简单易用的椭偏仪
se 500adv结合椭偏测量和反射测量
可消除椭偏测量对透明膜厚度的周期不确定性
膜厚测量范围可扩展至25000 nm.
技术指标:
激光波长632.8 nm
反射计光谱范围450 nm-920 nm
光斑直径80 μm
150 mm (z-tilt)样品台
角度计，可变入射角度，步进5°
lan连接电脑
cer组合椭偏仪se 500advanced可作为激光椭偏仪，cer组合式椭偏仪或反射膜厚仪ftpadvanced操作。比常规激光椭偏仪有更好的适应性。
作为椭偏仪操作
单角度和多角度测量，可测量***多三层膜的厚度和光学参数，测量波长632.8nm，有的测量精度。
作为反射式膜厚仪ftpadvanced操作
白光正入射测量，可测量透明膜或弱吸收薄膜，厚度可达25μm。配置更先进的软件ftpexpert后能够测量多层膜。
作为cer组合椭偏仪操作
解决了透明膜的周期不确定性问题，并由于确定的膜厚周期，折射率测量精度显著增加。可测量透明膜的cauchy系数。

---

北京亚科晨旭科技有限公司
侯先生
18363769781
北京 朝阳区 酒仙桥路14号兆维大厦6层616室